Mengetes Transistor Fet

Mengukur Kerusakan Fet Dengan Multimeter FET dibagi menjadi dua keluarga: Junction FET (JFET) dan Insulated Gate FET (IGFET) atau juga dikenal sebagai Metal Oxide Silicon (atau semikonduktor) FET (MOSFET). Berbeda dengan IGFET, gerbang terminal yang JFET membentuk sebuah dioda dengan kanal (materi semikonduktor antara Source dan Drain). Dalam fungsinya, ini membuat N-channel JFET menjadi sebuah versi solid-state dari tabung vakum, yang juga membentuk sebuah dioda antara grid dan katoda. Dan juga, keduanya (JFET dan tabung vakum) bekerja di "pengurasan mode", keduanya memiliki impedansi masukan yang tinggi, dan mereka melakukan arus listrik dibawah kontrol tegangan input. Mengukur Kerusakan Fet Dengan Multimeter Mengukur Kerusakan Fet Dengan Multimeter Penentuan FET dilakukan oleh berbagai x100 penyidik hitam dan merah pada Gate Sumber. Bila jarum menyimpang, maka FET kanalP Janis dan jika tidak, FET adalah kanal N. Kerusakan FET dapat diamati dengan serangkaian gambar. Rentang ditempatkan pada x1k atau x10k, potensio pada minimum, resistansi harus kecil. Bila potensio diputar ke kanan, resistansi harus tak terhingga. Jika hal ini tidak terjadi, maka kemungkinan FET rusak.Sebagai percobaan pengukuran silahkan anda ukur transistor IRF3710atauIRF540N yang kerap dijumpai UPS komputer.